a inicio
LABORATORIO DE MICROSCOPÍA
ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS
INFORMACIÓN ÚTIL

Servicios/Información útil

Preparación de muestras y funcionamiento del SEM: generalidades

Las instalaciones en el LABMEM están disponibles para ayudar a los usuarios en la preparación y montaje de las muestras, contando con una sala de preparación de muestras, estufa de secado, lupa binocular, agitador ultrasónico, metalizadora SPI y otros elementos apropiados, tales como cintas conductoras adhesivas de carbono, aluminio y cobre, pinturas conductoras de carbono y plata y portamuestras o "stubs" de aluminio, entre otros.

Normalmente, un Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) o SEM (Scanning Electron Microscope) funciona en condiciones de alto vacío y las muestras que se observan en él deben estar secas. Además, los materiales analizados también deben ser buenos conductores del calor y la electricidad, condición que permite la correcta adquisición de imágenes (ver imágenes). Con esta finalidad, las muestras de naturaleza no conductoras deben ser montadas siempre sobre materiales conductores (cintas adhesivas de carbono, aluminio o cobre, pinturas de carbono o plata y portamuestras de aluminio) y cubiertas con una fina capa de algún elemento conductor, generalmente oro, oro/paladio, cromo o también carbono (entre otros), según sea el objetivo de la observación. En líneas generales, se puede decir que si la finalidad es obtener solo imágenes, lo más indicado es la cubierta con oro u oro/paladio, y si el objetivo es el microanálisis, lo mejor es la cubierta con carbono. Sin embargo, esto no debe ser tomado como una norma, ya que hay situaciones particulares en dónde se debe evaluar la conveniencia o nó de una determinada cubierta.

En el caso de muestras sensibles, biológicas o con contenido líquido, pueden observarse en el modo de bajo vacío del SEM, sin necesidad de ser metalizadas ni sufrir ningún tipo de alteración o tratamiento previo (ver imágenes obtenidas en bajo vacío), o también pueden ser procesadas y deshidratadas en un Secador por Punto Crítico, para luego ser montadas, metalizadas y observadas en alto vacío.

Las muestras que ingresan en la cámara del SEM son colocadas en una platina de aproximadamente 5 cm. de diámetro, con lugar para 8 (ocho) portamuestras o "stubs" (de 1,2 cm. de diámetro) con muestras de tamaño estándar. Dicha platina, una vez colocada en la cámara del SEM, puede moverse en diferentes direcciones posibilitando la observación de la muestra desde distintos ángulos.

Las imágenes adquiridas en el SEM pueden obtenerse a partir de electrones secundarios, electrones retrodifundidos (o retrodispersados) o por una mezcla de ambos, dependiendo esto del motivo o finalidad de la observación. Los electrones secundarios brindan una excelente imagen de la topografía o detalles supeficiales de la muestra (ver imágenes), mientras que la imagen obtenida con electrones retrodifundidos proporciona más información sobre la composición química del material analizado (ver imágenes).

Los usuarios están invitados a consultar con el personal del laboratorio para el asesoramiento sobre los métodos adecuados para el acondicionamiento y montaje de un determinado material o tipo de muestra.

arribavolver-arriba
INICIO
EL LABORATORIO
INVESTIGACION Y DESARROLLO
DOCENCIA
SERVICIOS
 INFORMACIÓN ÚTIL
CONTACTO