Docencia/Posgrado/Cursos

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO: ENTRENAMIENTO Y PRÁCTICA

Se dictó en tres instancias (del 9 de junio al 3 de julio y del 6 al 10 de agosto de 2009 y del 8 al 12 de marzo de 2010) el curso de posgrado de capacitación “Microscopía Electrónica de Barrido: entrenamiento y práctica”. El mismo se desarrolló en las instalaciones del LABMEM de la UNSL y estuvo a cargo de la Dra. María del R. Torres Deluigi (responsable) y el Biól. Esteban Crespo (colaborador).

El curso estuvo destinado a Graduados universitarios interesados en operar un microscopio electrónico de barrido (SEM) que acreditaron poseer los conocimientos teóricos básicos indispensables sobre  la técnica.

Ojetivos: al finalizar el Curso, se espera que los alumnos sean capaces de operar un Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de manera satisfactoria, de preparar adecuadamente las muestras para ser observadas en el mismo, y de realizar la interpretación de las micrografías en lo referido a las características morfológicas, topográficas, distribución de tamaños y diferentes fases presentes en las muestras.

PROGRAMA:
Los contenidos del Curso están agrupados en los siguientes módulos y serán desarrollados mediante clases prácticas:

Módulo 1
Venteo de la cámara y ubicación de las muestras en su interior. Control de vacío en la cámara y en la columna. Encendido del Microscopio. Saturación del filamento. Centrado y alineamiento del haz. Corrección de histéresis.

Módulo 2
Obtención de imágenes de calidad con el detector de electrones secundarios (SED).

Enfoque de la imagen: ajuste de la distancia de trabajo, del tamaño del spot, del brillo y del contraste. Selección de parámetros adecuados: voltaje acelerador, corriente de sonda, etc. Análisis e interpretación de las micrografías obtenidas.

Módulo 3
Obtención de imágenes de calidad con el detector de electrones retrodispersados (BSED): ajuste de brillo y contraste. Empleo del modo “Mixing”. Análisis e interpretación de las micrografías obtenidas.

Módulo 4
Imágenes de alta magnificación: ajuste del “spot size”, corrección de astigmatismo. Grabado de imágenes. Análisis e interpretación de las micrografías obtenidas.

Módulo 5
Cambio de filamento de tungsteno y limpieza del cilindro de Whenelt. Centrado mecánico del filamento. Encendido de filamento nuevo.

Módulo 6
Preparación básica de muestras para ser observadas en el SEM. Montaje de la muestra sobre el “stub” de aluminio. Metalizado con oro y carbono.

Más información sobre este curso y toda la oferta de posgrado de la UNSL en: http://posgrado.unsl.edu.ar

Docencia/Posgrado/Becas

El Lic. Eloy Sebastián Sánchez, egresado de la FaMAF (UNC), posee una beca de investigación (Tipo II, 2010) de CONICET a desarrollar en el ámbito de la UNSL. Tema: "Caracterización de minerales mediante microscopía electrónica de barrido y microanálisis con sonda de electrones (EPMA)". Director: Dr. Alejo Carreras.

Docencia/Grado

Desde su creación, han visitado el LABMEM docentes, investigadores y alumnos de Carreras de Grado y Postgrado de la UNSL y de la Universidad Nacional de Córdoba (FaMAF).

Alumnos del Practicanato de la Carrera Analista Químico de la UNSL han asistido al LABMEM para analizar distintos elementos que fueron objeto de estudio en sus Trabajos Finales. El personal a cargo del Laboratorio les ha brindado asesoramiento y explicaciones descriptivas del funcionamiento de los diferentes equipos. Los alumnos han realizado la preparación (montaje y metalización) de sus muestras e interpretado los resultados de la caracterización realizada mediante las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microanálisis.

La Dra. María del Rosario Torres Deluigi ha dirigido la Tesina de Grado de la Licenciatura en Física del alumno Víctor Galván Josa, de la FaMAF (UNC) y parte de las mediciones se realizaron en el LABMEM. (2006).

La Dra. María del Rosario Torres Deluigi ha dirigido la Tesina de Grado de la Licenciatura en Física de la alumna Julia Díaz Luque, de la UNSL y sus mediciones se realizaron en el LABMEM. Tema: "Líneas K del aluminio y del silicio originadas por doble ionización". (2010).

El Dr. Alejo Carreras ha dirigido la Tesina de Grado de la Licenciatura en Física del alumno Eloy Sebastián Sánchez, de la FaMAF (UNC) y parte de las mediciones se realizaron en el LABMEM. (2007).

Docencia/Seminarios y Conferencias